hig.sePublikasjoner
EnglishSvenskaNorsk
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Benefits with Truncated Gaussian Noise in ADC Histogram Tests
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
2004 (engelsk)Inngår i: IMEKO 04, 2004, s. 787-792Konferansepaper, Publicerat paper (Fagfellevurdert)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2004. s. 787-792
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-1957OAI: oai:DiVA.org:hig-1957DiVA, id: diva2:118619
Merknad

13th Symposium on Measurements for Research and Industrial Applications, 9th Workshop on ADC Modeling and Testing (IWADC), Athens, Greece, 2004

Tilgjengelig fra: 2007-02-15 Laget: 2007-02-15 Sist oppdatert: 2023-02-17bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Person

Björsell, Niclas

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Björsell, Niclas
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 1297 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
v. 2.43.0
|
WCAG
|
Högskolebiblioteket i Gävle
|
Forskning vid Högskolan i Gävle
|
Registrera i DiVA