hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Measuring Volterra kernels of analog to digital converters using a stepped three-tone scan
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0003-2887-049x
2006 (Engelska)Ingår i: Proceedings of the IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 2006. IMTC 2006, 2006, s. 1047-1050Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

Volterra theory can be used to mathematically model nonlinear dynamic components such as analog-to-digital converter (ADC). This paper describes how frequency domain Volterra kernels of an ADC are determined from measurements. The elements of Volterra theory are given and practical issues are considered, such as methods for signal conditioning, finding the appropriate test signals scenario and suitable sampling frequency. The results show that for the used pipeline ADC, the frequency dependence is significantly stronger for second order difference products than for sum products and the linear frequency dependence was not as pronounced as that of the second order Volterra kernel.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2006. s. 1047-1050
Serie
IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, ISSN 1091-5281
Nyckelord [en]
analog to digital converters, ADC, Volterra kernels, test, measurements
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-1902DOI: 10.1109/IMTC.2006.328342ISI: 000244176702019ISBN: 0-7803-9359-7 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:hig-1902DiVA, id: diva2:118564
Konferens
23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, April 24-27, 2006, Sorrento, Italy
Tillgänglig från: 2007-11-16 Skapad: 2007-11-16 Senast uppdaterad: 2018-11-26Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Björsell, NiclasRönnow, DanielHändel, Peter

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, NiclasRönnow, DanielHändel, Peter
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronik
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 1116 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf