hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Measuring Volterra kernels of analog to digital converters using a stepped three-tone scan
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
Department of Measurement, Czech Technical University, Prague, Czech Republic.
Signal Processing Laboratory, Royal Institute of Technology, Stockholm, Sweden.ORCID-id: 0000-0002-2718-0262
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik. WesternGeco, Asker, Sweden.ORCID-id: 0000-0003-2887-049x
2008 (Engelska)Ingår i: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, ISSN 0018-9456, E-ISSN 1557-9662, Vol. 57, nr 4, s. 666-671Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Volterra theory can be used to mathematically model nonlinear dynamic components such as analog-to-digital converter (ADC). This paper describes how frequency domain Volterra kernels of an ADC are determined from measurements. The elements of Volterra theory are given and practical issues are considered, such as methods for signal conditioning, finding the appropriate test signals scenario and suitable sampling frequency. The results show that for the used pipeline ADC, the frequency dependence is significantly stronger for second order difference products than for sum products and the linear frequency dependence was not as pronounced as that of the second order Volterra kernel. It is suggested that the Volterra kernels have the symmetry properties of a specific box model, namely a parallel Hammerstein systems.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2008. Vol. 57, nr 4, s. 666-671
Nyckelord [en]
Analog-to-digital converter (ADC); Measurements; Test; Volterra kernels
Nationell ämneskategori
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-1478DOI: 10.1109/TIM.2007.911579ISI: 000254029600001Scopus ID: 2-s2.0-41549085064OAI: oai:DiVA.org:hig-1478DiVA, id: diva2:118140
Tillgänglig från: 2008-03-12 Skapad: 2008-03-12 Senast uppdaterad: 2018-11-26Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Björsell, NiclasHändel, PeterRönnow, Daniel

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, NiclasHändel, PeterRönnow, Daniel
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronik
I samma tidskrift
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Annan elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 1169 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf