hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
A bandwidth extension technique for dynamic characterization of power amplifiers
Royal Institute of Technology, Stockholm, Sweden.
Högskolan i Gävle, Akademin för teknik och miljö, Avdelningen för elektronik, matematik och naturvetenskap, Elektronik.ORCID-id: 0000-0003-2887-049X
Royal Institute of Technology, Stockholm, Sweden.ORCID-id: 0000-0002-2718-0262
2006 (Engelska)Ingår i: 2006 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference Proceedings, 2006, s. 1972-1976Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

In this paper a method for increasing the bandwidth of a test-bed for dynamic characterization of power amplifiers is described. The technique is readily implemented using commercially available instruments which makes it suitable for e.g. production testing The bandwidth extension technique is combined with coherent averaging of the measurements in order to simultaneously increase the bandwidth and dynamic range of the test-bed. In addition the errors in the obtained wideband signal are estimated. The method is evaluated experimentally on a basestation power amplifier for the 3G WCDAM system.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2006. s. 1972-1976
Serie
IEEE instrumentation & measurement technology conference, proceedings, ISSN 1091-5281
Nyckelord [en]
amplifier model, bandwidth extension, dynamic range, measurement system, power amplifier, test-bed
Nationell ämneskategori
Elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-23217DOI: 10.1109/IMTC.2006.236121ISI: 000244176704006Scopus ID: 2-s2.0-34547891139ISBN: 978-0-7803-9359-2 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:hig-23217DiVA, id: diva2:1062322
Konferens
23rd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, April 24-27, 2006, Sorrento, Italy
Anmärkning

QC 20110628

Tillgänglig från: 2011-06-28 Skapad: 2017-01-05 Senast uppdaterad: 2018-03-13Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Rönnow, DanielHändel, Peter

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Rönnow, DanielHändel, Peter
Av organisationen
Elektronik
Elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 176 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf