hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
On Gaussian and Sine Wave Histogram Tests for Wideband Applications
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
2005 (Engelska)Ingår i: IMTC 2005, Ottawa, 2005, s. 677-682Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2005. s. 677-682
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-1946DOI: 10.1109/IMTC.2005.1604203OAI: oai:DiVA.org:hig-1946DiVA, id: diva2:118608
Konferens
IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Ottawa, Ontario, CANADA. 17-19 May 2005
Tillgänglig från: 2007-02-15 Skapad: 2007-02-15 Senast uppdaterad: 2019-12-11Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextAbstract

Personposter BETA

Björsell, Niclas

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, Niclas
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 1144 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf