hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Benefits with Truncated Gaussian Noise in ADC Histogram Tests
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
2004 (Engelska)Ingår i: IMEKO 04, 2004, s. 787-792Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2004. s. 787-792
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-1957OAI: oai:DiVA.org:hig-1957DiVA, id: diva2:118619
Anmärkning
13th Symposium on Measurements for Research and Industrial Applications, 9th Workshop on ADC Modeling and Testing (IWADC), Athens, Greece, 2004Tillgänglig från: 2007-02-15 Skapad: 2007-02-15 Senast uppdaterad: 2019-12-11Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

http://www.imeko.org/publications/iwadc-2004/IMEKO-IWADC-2004-001.pdf

Personposter BETA

Björsell, Niclas

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, Niclas
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 1134 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf