hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Truncated Gaussian noise in ADC histogram tests
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik. (ITB/Electronics)ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
Royal Institute of Technology, Signal Processing Laboratory, Stockholm, Sweden.
2007 (Engelska)Ingår i: Measurement, ISSN 0263-2241, E-ISSN 1873-412X, Vol. 40, nr 1, s. 36-42Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

One method to characterize analogue to digital converters (ADCs) is to use a histogram, where Gaussian noise may be used as stimulus signal. However, a Gaussian noise signal that excites all transition levels also generates input values outside working range of the ADC. Modern signal generators can generate arbitrary signals. Hence, excluding undesired values outside the ADC full scale can minimize test sequences. Truncating the signal to the working range gives further advantages, which are explored in this paper. The Cramér-Rao lower bound and a minimum variance estimator for histogram tests with an arbitrary stimulus are derived. These are applied for truncated Gaussian noise and the result is theoretically evaluated and compared to untruncated noise. It is shown that accuracy increases for a fixed sample length and that variation over transition levels decrease.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2007. Vol. 40, nr 1, s. 36-42
Nyckelord [en]
ADC; CRLB; Histogram tests; MVE; Signal processing; Testing
Nationell ämneskategori
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-2333DOI: 10.1016/j.measurement.2006.05.005ISI: 000243833500006Scopus ID: 2-s2.0-33845450590OAI: oai:DiVA.org:hig-2333DiVA, id: diva2:118995
Tillgänglig från: 2008-05-19 Skapad: 2008-05-19 Senast uppdaterad: 2019-12-11Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltextScopus

Personposter BETA

Björsell, Niclas

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, Niclas
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronik
I samma tidskrift
Measurement
Annan elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 1147 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf