hig.sePublikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
A Test-Bed Designed to Utilize Zhu’s General Sampling Theorem to Characterize Power Amplifiers
Ericsson.
Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik. Högskolan i Gävle, Radio Center Gävle.ORCID-id: 0000-0001-5429-7223
Högskolan i Gävle, Radio Center Gävle. Högskolan i Gävle, Institutionen för teknik och byggd miljö, Ämnesavdelningen för elektronik.
2009 (Engelska)Ingår i: Instrumentation and measurement technology conference 2009 I2MTC '09 IEEE, Singapore, 2009, s. 201-204Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

Characterizing power amplifiers require test set-ups with performance superior to the power amplifiers. A commonly used method is to use an IQ-demodulator. However, problem arises due to imperfections in the demodulator such as IQ-imbalance; an alternative method is to use a direct down converter to intermediate frequency. The drawback then is the limited bandwidth. However, the required bandwidth of the ADC does not need to be exceptional. According to Zhu’s general sampling theorem is it enough to sample the output signal at the Nyquist rate of the input. However, even though the required sampling rate is reduced the demands on the analog bandwidth remains. Unfortunately, commercially available instruments such as vector signal analyzers can not be used for this purpose since their analog bandwidth is too small. In this paper a test-bed is designed to utilize the Zhu’s general sampling theorem. The RF front-end has frequency range of 500 MHz – 2.7 GHz and a bandwidth of 1 GHz. All performance data are verified with measurements.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Singapore, 2009. s. 201-204
Nationell ämneskategori
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:hig:diva-4429DOI: 10.1109/IMTC.2009.5168443ISBN: 978-1-4244-3353-7 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:hig-4429DiVA, id: diva2:216391
Konferens
Instrumentation and measurement technology conference 2009 I2MTC '09 IEEE
Anmärkning
Instrumentation and measurement technology conference 2009 I2MTC '09 IEEE 5-7 may 2009 SingaporeTillgänglig från: 2009-05-08 Skapad: 2009-05-08 Senast uppdaterad: 2019-12-11Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Björsell, NiclasKeskitalo, Niclas

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Björsell, NiclasKeskitalo, Niclas
Av organisationen
Ämnesavdelningen för elektronikRadio Center Gävle
Annan elektroteknik och elektronik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 1371 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard-cite-them-right
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • sv-SE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • de-DE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf